辅助设备
CIMS康代LTCC AOI自动光学检测仪Galaxy LTCC 30v
- 简介:Galaxy LTCC 30v，是专为薄（半透明）LTCC产品的检测需求而设计的专用自动化检测解决方案，其检测能力可至30µm线宽；同时运用顶部和底部照明，可实现多种产品图像的最大对比度，能确保在高产能的前提下获得最佳的检测性能。 Galaxy LTCC 30µ，是专为厚（半透明）LTCC产品的检测需求而设计的专用自动化检测解决方案，其检测能力可至30µm线宽。该系统还配备了康代先进的光学技术Microlight ，以提供理想的光覆盖能力，可以检测基于厚陶瓷基板生产的所有类型LTCC产品，在确保超高产能的前提下，还能实现检测图像的最佳对比度
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CIMS康代LTCC AOI自动光学检测仪Galaxy LTCC 30v应用领域
CIMS康代LTCC AOI自动光学检测仪Galaxy LTCC 30v应用于HTCC、LTCC、PZT压电陶瓷、SOFC、MLCC等叠层陶瓷生瓷印刷和填孔后的外观检测。
主要特点
ViaLight™专利技术
▪ CIMS康代LTCC AOI自动光学检测仪Galaxy LTCC 30v可调节的背光照明技术
▪ 透射光系统
▪ 稳定且均匀的光线分布
▪ 置于扫描台面内的照明光源
CIMS康代LTCC AOI自动光学检测仪Galaxy LTCC 30vSpark™专利技术
▪ 卓越的检测能力
▪ 极低的假点误报率
▪ 简单快捷的设定
▪ 快速调整周期
Microlight™的专业应用
先进的照明技术提供:
▪ 可灵活调整光照覆盖，确保微短与落尘的检出能力
▪ 通过使用全谱技术，可以处理不同材质
▪ 适用于特殊应用
Galaxy LTCC 30v，是专为薄（半透明）LTCC产品的检测需求而设计的专用自动化检测解决方案，其检测能力可至30µm线宽；同时运用顶部和底部照明，可实现多种产品图像的最大对比度，能确保在高产能的前提下获得最佳的检测性能。
Galaxy LTCC 30µ，是专为厚（半透明）LTCC产品的检测需求而设计的专用自动化检测解决方案，其检测能力可至30µm线宽。该系统还配备了康代先进的光学技术Microlight ，以提供理想的光覆盖能力，可以检测基于厚陶瓷基板生产的所有类型LTCC产品，在确保超高产能的前提下，还能实现检测图像的最佳对比度。
CIMS康代LTCC AOI自动光学检测仪Galaxy LTCC 30v技术参数
| 线宽线距 | 最小线路30微米 |
| 产品厚度 | 0.04mm - 1mm |
| 产品尺寸 | 最大787.4mm × 622.3mm |
| 检测内容 | 开路、短路、缺口、突出、形状违反、特征点遗漏及违反等 |
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