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LTCC HTCC非接触式湿膜测厚仪E-80
- 简介:LTCC HTCC非接触式湿膜测厚仪E-80主要应用于非接触快速测量LTCC、HTCC、MLCC、PZT压电陶瓷、SOFC等印刷后的生瓷干、湿膜电极的厚度。
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LTCC HTCC非接触式湿膜测厚仪E-80应用领域
主要应用于非接触快速测量LTCC、HTCC、MLCC、PZT压电陶瓷、SOFC等印刷后的生瓷干、湿膜电极的厚度。
环氧树脂测量
印刷图形测量
激光打标测量
焊膏厚度测量
表面膜厚测量
主要特点
非接触光学测量系统
应对各种高反光、高透光材质
高速采样，最快周期20µs
强大的CPK统计功能
测量轮廓、断差、槽深、膜厚等
LTCC HTCC非接触式湿膜测厚仪E-80为非接触式膜厚测试系统，用于快速测量被测物体的表面或轮廓。对于干、湿膜产品都可以实现膜厚量测。所有测量数据均能自动进行 excel 数据输出。
LTCC HTCC非接触式湿膜测厚仪E-80技术参数
| 外观尺寸 | 650mm*500mm*600mm |
| 测量扫描行程 | 80mm |
| Z轴可调行程 | 50mm |
| 有效测量范围 | 60mm |
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